NITTOSEIKO日东精工电阻率自动测量系统

                            产品型号：MCP-S620

                            简介：适用于测量ITO薄膜、各种金属薄膜等的膜厚分布以及传送带的电阻率分布。电阻率自动测量系统 大型测绘系统 MCP-S620型/MCP-S521型 

适用于测量ITO薄膜、各种金属薄膜等的膜厚分布以及传送带的电阻率分布。 

特征 

测量、计算、数据处理和3D图形输出可以自动化。

（电路板尺寸*大可达 650 x 650 毫米。） 

以三维图形显示[Ω]、[Ω/□]、[Ωcm]、[S/cm]。 

测量位置设置可以通过三种方式一键完成：网格输入和顺序输入。 

它可用于广泛的用途，从研究和开发到在线抽样检查。 

有从低电阻率到高电阻率两种类型。

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